LST-121/ATI-212/AZ-991絕緣材料表面體積電阻率測試儀器

技

術

方

案

書

符合標準：

GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法》

GB/T 1692-2008 《硫化橡膠 絕緣電阻率的測定》

GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑性橡膠 導電性能和耗散性能電阻率的測定》

GB/T 12703.4-2010 《紡織品 靜電性能的評定 第４部分：電阻率》

GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》

ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法》

GB/T 10064-2006_《測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法》

GB/T 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》

EN 1149-1-1995 《 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》

GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與標準IEC93-1980等效）

FZ/T 64013-2008 《靜電植絨毛絨》

SJ/10694-2006《電子產(chǎn)品制造與應用系統(tǒng)防靜電檢測通用規(guī)范》6.1

一、絕緣材料表面體積電阻率測試儀器概述

體積電阻率測試儀又稱體積表面電阻率測試儀，既可測量高電阻，又可測微電流。采用了美國Intel公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕準確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ～1×1018 Ω，是目前國內(nèi)測量范圍0寬，準確度0高的數(shù)字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。機內(nèi)測試電壓10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調(diào)。本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便,適用于橡膠、塑料、薄膜、地毯、織物及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。

二、主要特點

電阻測量范圍寬 1×104Ω ～1×1018Ω

電流測量范圍為 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ

體積小、重量輕、準確度高

電阻、電流雙顯示

性能好穩(wěn)定、讀數(shù)方便

所有測試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測試時電阻結果直讀，免去老式高阻計在不同測試電壓下或不同量程時要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩，使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。既能測超高電阻又能測微電流

三、技術指標

1、電阻測量范圍： 1×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測量范圍為： 2×10-4A～1×10-16A

3、顯 示 方 式：數(shù)字液晶顯示

4、內(nèi)置測試電壓： 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準確度：1% (*注)

6、使用環(huán)境： 溫度：0℃～40℃，相對濕度<80%

7、機內(nèi)測試電壓： 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式： AC 220V，50HZ，功耗約5W

9、儀器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10、質量： 約5KG

四、工作原理

根據(jù)歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計的工作原理是測量電壓V固定，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時，其電壓V也會有些變化，所以普通的高阻計是精度差、分辨率低。

本儀器是同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計算，然后把所得到的結果經(jīng)過A/D轉換后以數(shù)字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流Ｉ的變而變，所以，即使測量電壓、被測量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對其結果影響不大，其測量精度很高(0)，從理論上講其誤差可以做到零，而實際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。

典型應用

1、測量絕緣材料電阻(率)

2、測量防靜電材料的電阻及電阻率

3、測量計算機房用活動地板的系統(tǒng)電阻值

4、測量防靜電鞋、導電鞋的電阻值

5、光電二極管暗電流測量

6、物理,光學和材料研究

標準配置：

1、測試儀器：1臺

2、電源線：1條

3、測量線：3根（屏蔽線、測試接線、接地線）

4、使用說明書：1份

8.高分子材料表面體積電阻率測定

標準配置：